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产品介绍
主要概述:超声波涂层测厚仪适用于能使超声波以一恒定速度在其里面传播,并能从其背面得到反射的超薄薄膜材料或者涂层厚度的测量。测量分辨率达0.001mm,测量范围薄至0.02mm,可以同时测量涂层和基材的厚度。
超声波涂层测厚仪可应用于石油、化工、冶金、造船、航空航天、能源等各个领域。符台 标准《超声波测厚仪校准规范》 JF1126-2004。
主要功能:
测量范围宽,小测量厚度,涂层20um,大测量厚度1800mm:● 可测每一层薄0.02mm(20um),对声速2310m/s的塑料材料,0.05mm(50um)。对声速低于1000m/s的涂层材料,薄可测0.02mm(20um),加基材测量厚度厚可达1800mm,可以测十层复合层每一层的厚度但不限于十层(无数层),且不限于涂层和基材的材质,任何材质均可以测量;
高精度测厚,高测量分辨率可达0.001mm;重复分辨率可达士0.002mm:A-扫描模式,B-扫描模式,数值显示模式:具有穿透涂层和回波到回波测量功能,用于测量表面带有漆层和涂层的材料;根据材料声速不同可以检测部分复合材料上的涂层和和漆层,可以同时测量10个以上的多层材料各层厚度,同一回波下切换显示各层厚度值;多种测量:THIN,MB-E,E-E,Auto模式满足对常规厚工件测量;THIN E-E模式对薄涂层
测里金属和非金属(玻璃,复合材料,塑料,混土,木材等)基材上涂层厚度适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、树脂、玻璃纤维及其他超声波的良导体的厚度。
基本原理:
采用脉冲反射超声波测厚原理,适用于能使超声波以一恒定速度在其里面传播,并能从其背面得到反射的超薄薄膜材料或者涂层厚度的测量。
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